Upload dokumentów - promocja książek - darmowy hosting pdf - czytaj fragmenty
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie słynnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:• aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;• podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;• zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;• aspekty niepewności efektów pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, • wstępne opracowanie efektów kalibracji a także procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnorakich właściwościach błędów;• badanie metod analitycznych a także badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;• aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;• sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;• laboratoria akredytowane a także zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;• przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac ponad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI a także kierunki prac prowadzonych ponad realizacją świeżych (kwantowych) etalonów. Opisano również komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie ważne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane świeżymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka ebook jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, a także do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej a także jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.
Szczegóły | |
---|---|
Tytuł | Wzorcowanie aparatury pomiarowej |
Autor: | Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna |
Rozszerzenie: | brak |
Język wydania: | polski |
Ilość stron: | |
Wydawnictwo: | Wydawnictwo Naukowe PWN |
Rok wydania: |
Tytuł | Data Dodania | Rozmiar |
---|
PDF Upload - Zapytania o Książki - Dokumenty © 2018 - Wszystkie prawa zastrzeżone.